Universitäre Service-Einrichtung für Transmissionselektronenmikroskopie
FEI TECNAI F20
FEI TECNAI F20 (60 kV - 200 kV EELS)
Standort: DB08G03
Tel.: 45215
Geräteverantwortlicher: Dr. Michael Stöger-Pollach
Anwendungsgebiete:
- Dichroismus Messungen
- Halbleiteruntersuchungen mit EELS (VEELS)
- Auftragsforschung
- HRTEM
- Chemische Mikroanalyse mit hoher Ortsauflösung
- Strukturanalyse mittels Elektronenbeugung
Besonderheiten: bi-prisma in C2 Position (optional)
und Objektivlinsen Umpolung
Spezifikationen:
| Emitter | FEG |
| Betriebsspannung | 60 kV - 200 kV |
| EELS/EFTEM | GIF Tridiem |
| EDX | ja |
| STEM | ja |
| HAADF | ja |
| lattice resolution | 0.14 nm |
| point resolution | 0.21 nm |
| energy resolution @ 200 kV | 0.7 eV |
| energy resolution @ 60 kV | 0.5 eV |
| line resolution EDX | 136 eV |
Probenhalter:
| single tilt | ja |
| double tilt (low background) | ja |
| double tilt rotation | ja (+/- 35°) |
| cryo transfer double tilt | ja |
| double tilt heating (1000°C) | ja (+/- 30°) |