Universitäre Service-Einrichtung für Transmissionselektronenmikroskopie
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FEI TECNAI F20

FEI TECNAI F20 (60 kV - 200 kV EELS) (2001)
FEI TECNAI F20 (60 kV - 200 kV EELS) (2014)

Standort: DB08G03
Tel.: 45215
Geräteverantwortlicher: Dr. Michael Stöger-Pollach

Anwendungsgebiete:

  • Abbildung mittels Bildmodus bzw. STEM
  • Dichroismus Messungen
  • Halbleiteruntersuchungen mit EELS (VEELS
  • Low Voltage (60 keV) EELS
  • Auftragsforschung
  • HRTEM
  • Chemische Mikroanalyse mit hoher Ortsauflösung
  • Strukturanalyse mittels Elektronenbeugung
  • CL - Cathodoluminescence

Besonderheiten: bi-prisma in C2 Position (optional),
Objektivlinsen Umpolung, Vortex-Blenden in C1, C2 und SAD,
Bessel-Strahl Blende in C2

Spezifikationen:

EmitterFEG
Betriebsspannung60 kV - 200 kV
EELS/EFTEMGIF Tridiem
EDXEDAX Apollo XLTW SDD, <129 eV Auflösung
STEMja
HAADFja
GATAN VULCAN CL Spektrometerja
GATAN Orius 600bottom mount CCD
GATAN DigiStem IIja
lattice resolution0.14 nm
point resolution0.21 nm
energy resolution @ 200 kV0.7 eV
energy resolution @ 60 kV0.5 eV
line resolution EDX136 eV

 

Probenhalter:

single tiltja
double tilt (low background)ja
double tilt rotation ja (+/- 35°)
cryo transfer double tiltja
double tilt heating (1000°C)ja (+/- 30°)