Universitäre Service-Einrichtung für Transmissionselektronenmikroskopie
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Schulungen

 

TEM Einschulungskurs am Tecnai

Wir bieten Einschulungskurse für das richtige Arbeiten mit dem FEI Tecnai an. Um nach Beendigung dieses Kurses einen sicheren Umgang mit dem Gerät gewährleisten zu können, wird der Kurs nur für max. 5 Personen abgehalten. Die Kurstage können individuell vereinbart werden.

Sie können aus 2 möglichen Paketen wählen:

- Grundkurs Tecnai:

  • TEM-Mode: Strahlalignment, Aufnahme von Bild und Beugungsbild mit CCD Kamera,
  • HRTEM: Alignments
  • STEM-Mode: Strahlalignment, HAADF imaging
  • EDX:  Punktanalyse im TEM und STEM-Mode, Flächenanalyse im STEM-Mode, Linescan, Drift corrected Linescan, Aufbereitung der Daten, Auswertung

- Erweiterungskurs EELS/EFTEM: (Voraussetzung: sicherer Umgang mit dem Tecnai – siehe Grundkurs)

  • EELS: Spektrum aufnehmen im TEM- und Beugungsbild-Mode (ZLP, Kanten bei höherem Energieverlust)
  • Verbesserung des Signal-Rausch-Verhältnis
  • EFTEM: Zero-Loss gefilterte Bilder
  • Gefilterte Bilder - Optimierung der gesetzten Fenster, Verbesserung des Signal-Rausch-Verhältnis


Bei Nachfrage können Kurse für Lichtmikroskopie und TEM/EELS/EFTEM abgehalten werden. Unser Team berät Sie gerne.

 

Frühere Kurse:

  • TEM/EELS Kurs (Juni 2010)
  • TEM Kurs für Chemiker (18.-27. Sept. 2007)
  • Lichtmikroskopiekurs (14.-15. Juni 2005)
  • TEM/EELS Kurs (April 2004)